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美國泛美38DL超聲波測厚儀-特點：

• 使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。

• 穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。

• 內部氧化層/沉積物軟件選項。

• 對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。

• 使用頻率范圍2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量

• 多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。

• 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。

• 厚度、聲速和渡越時間測量。

• 差分模式和縮減率模式。

• 時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可查讀數。

• 帶有數字式過濾器的Olympus高動態(tài)增益技術。

• 用于自定義V聲程補償的V聲程創(chuàng)建功能。

• 設計符合EN15317標準。

• 可用右手或左手單手操作的簡潔的鍵區(qū)。

• 可直接訪問所有功能的簡便易行的操作界面。

• 內置和外置MicroSD存儲卡。

• USB和RS-232通訊端口。

• 可存儲475000個厚度讀數或20000個波形的字母數字式數據記錄器。

• 可連接計算機或顯示器的VGA輸出。

• 默認或自定義雙晶探頭設置。

• 默認或自定義單晶探頭設置。

• 密碼保護功能可以鎖住儀器的功能。

美國泛美38DL超聲波測厚儀-技術參數：

雙晶探頭測量模式 從激勵脈沖后的精確延時到*個回波之間的時間間隔。

穿透涂層測量模式 利用單個底面回波（使用D7906-SM和D7908探頭），測量金屬的實際厚度和涂層厚度

穿透漆層回波到回波測量模式 在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。

單晶探頭測量模式 模式1：激勵脈沖與*個底面回波之間的時間間隔。

模式2：延遲線回波與*個底面回波之間的時間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。

模式3：在激勵脈沖之后，位于*個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。

氧化層模式：可選。

多層模式：可選。

厚度范圍 0.080毫米～635.00毫米，視材料、探頭表面條件、溫度和所選配置而定。

材料聲速范圍 0.508 mm/μs～13.998 mm/μs

分辨率（可選擇） 低分辨率：0.1毫米

標準分辨率：0.01毫米

高分辨率（可選項）：0.001毫米

探頭頻率范圍 標準：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB）

高穿透（可選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）

一般規(guī)格

工作溫度范圍 -10°C～50°C

鍵區(qū) 密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋。

機殼 防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼；機殼上的接口密封。設計符合IP67標準。

外型尺寸（寬 x 高 x 厚） 總體尺寸：125毫米x211毫米x46毫米

重量 0.814公斤

電源 AC/DC適配器，24 V；鋰離子電池，23.760 Wh；或4節(jié)AA輔助電池。

鋰離子電池供電時間 工作時間：zui少12.6小時，一般14小時，zui多14.7小時。快速充電：2小時到3小時 標準 設計符合EN15317標準。

顯示：彩色透反VGA顯示 液晶顯示，顯示屏尺寸：56.16毫米 X 74.88毫米

檢波 全波、RF波、正半波、負半波 輸入/輸出

USB 1.0從接口。

RS-232 有。

存儲卡 zui大容量：2 GB外置MicroSD存儲卡。

視頻輸出 VGA輸出標準。

內置數據記錄器

數據記錄器 38DL PLUS通過標準RS-232串口或USB端口識別、存儲、回放、清除、傳輸厚度讀數、波形圖像和儀器配置信息。

容量 475000個厚度測量讀數，或20000個帶厚度值的波形。

文件名稱、ID編碼及注釋 32位字符的文件名，20位字符的字母數字位碼，每個位有四個注釋。

文件結構 9個標準的或自定義的用于特定應用的文件結構。

報告 機載報告總結了數據統(tǒng)計、帶有位置信息的zui小值/zui大值、zui小值回顧、文件比較及報警報告。

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